前言
2024 年 3 月 1 日，《推動(dòng)大規(guī)模設(shè)備更新和消費(fèi)品以舊換新行動(dòng)方案》經(jīng)國(guó)務(wù)院常務(wù)會(huì)議審議通過(guò)。會(huì)議指出，推動(dòng)新一輪大規(guī)模設(shè)備更新和消費(fèi)品以舊換新，是黨中央著眼于我國(guó)高質(zhì)量發(fā)展大局作出的重大決策。同時(shí)指出，新一輪換新工作仍堅(jiān)持標(biāo)準(zhǔn)，更好發(fā)揮能耗、排放、技術(shù)等標(biāo)準(zhǔn)的牽引作用，智能、綠色、低碳的科研儀器，將成為設(shè)備更新的主力軍。
飛納臺(tái)式掃描電鏡秉持智能、低碳環(huán)保的設(shè)計(jì)理念，以極低的運(yùn)行能耗（約 200W）將臺(tái)式電鏡的分辨率提升到了 1nm，同時(shí)集背散射（BSD）、二次電子（SED）、能譜（EDS）、掃描透射（STEM）四種探測(cè)器于一身。
STEM探測(cè)器可以選擇BF像、DF像、HAADF像以及自定義
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PPI 自由編程——電鏡更加智能化
Phenom 飛納電鏡不僅擁有專(zhuān)門(mén)針對(duì)顆粒、孔徑、纖維、3D 重構(gòu)、全景拼圖等 5 大自動(dòng)識(shí)別統(tǒng)計(jì)和拍照的軟件，其的 PPI 編程功能，更是開(kāi)辟了可編程的智能掃描電鏡新領(lǐng)域。融合了可編程 PPI 后，飛納臺(tái)式掃描電鏡已進(jìn)化成為智能化的測(cè)量工具。根據(jù)客戶(hù)的工作流，進(jìn)行自由編程，如自定義自動(dòng)拍照（視頻）、自動(dòng)掃描、以及更加完善的工作流。
MIT 李巨教授的博士生，使用飛納電鏡的 PPI 進(jìn)行編程，結(jié)合 Chat GPT，開(kāi)發(fā)了一個(gè)實(shí)驗(yàn)科學(xué)家的人工智能助手 CRESt，把 AI 變成了科研工作者的 “專(zhuān)業(yè)攝影師"，不僅可以自動(dòng)拍照，而且可以拍要求的電鏡照片！
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掃描電鏡能有多智能？軟件也是硬實(shí)力！
飛納電鏡的多種智能化應(yīng)用工具，為眾多領(lǐng)域開(kāi)辟了智能化掃描電鏡應(yīng)用場(chǎng)景的新天地，更是融合了綠色低碳與智能化設(shè)計(jì)理念的選擇。
ParticleX Battery 鋰電清潔度系統(tǒng)
鋰電池中的銅、鋅、鐵等金屬異物可能導(dǎo)致嚴(yán)重的安全事故，對(duì)金屬異物的管控也已成為行業(yè)共識(shí)。ParticleX Battery 全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng)，基于掃描電鏡+能譜法可自動(dòng)識(shí)別、分析和統(tǒng)計(jì)銅、鋅、鐵等金屬異物，進(jìn)而幫助分析異物來(lái)源，改善生產(chǎn)條件，減少安全事故的發(fā)生。樣品測(cè)試自動(dòng)切換，生產(chǎn)工程師可以輕松實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)監(jiān)控生產(chǎn)車(chē)間的質(zhì)量控制。
ParticleX Steel 鋼鐵夾雜物系統(tǒng)
在各種夾雜物分析技術(shù)中，目前國(guó)內(nèi)外比較準(zhǔn)確和可靠的分析儀器是由前美國(guó) FEI 公司生產(chǎn)的基于掃描電鏡+能譜法的Aspex 系列產(chǎn)品（ParticleX Steel 全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)前身）。因其全自動(dòng)集成一體化的快速夾雜物分析和報(bào)告功能在全球鋼鐵行業(yè)得到了廣泛認(rèn)可，并且已有大量文獻(xiàn)報(bào)道該技術(shù)在鋼鐵生產(chǎn)中應(yīng)用的各種成功案例。
ParticleX TC 汽車(chē)清潔度系統(tǒng)
汽車(chē)行業(yè)越來(lái)越關(guān)注 SiO、AlO 等硬質(zhì)顆粒的影響，傳統(tǒng)的清潔度分析方法只能提供清潔部件上大顆?；覊m和碎片的總體重量或形狀信息，而不能全面分辨顆粒的污染源。ParticleX TC 全自動(dòng)汽車(chē)清潔度分析系統(tǒng)，基于掃描電鏡+能譜法取代傳統(tǒng)顆粒物清潔度檢測(cè)方法，允許工程師看見(jiàn)微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源。
Phenom GSR 槍擊殘留物系統(tǒng)
在qiangji事件中，槍擊殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 （SEM） 的背散射成像，用來(lái)掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR" 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識(shí)別在該粒子中的元素。較常見(jiàn)的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測(cè)，例如 Ti 和 Zn 也可作為搜索條件進(jìn)行搜索。
DiatomAI 硅藻檢測(cè)系統(tǒng)
基于飛納臺(tái)式掃描電鏡的 DiatomScope 自動(dòng)硅藻檢驗(yàn)系統(tǒng)為硅藻相關(guān)檢驗(yàn)提供成熟、可靠、高效的解決方案，可自動(dòng)完成每批各個(gè)樣品的高質(zhì)量圖像捕捉，實(shí)現(xiàn)地毯式拼圖（可設(shè)置夜間自動(dòng)運(yùn)行）；用戶(hù)從獲取的圖片中逐個(gè)查找、標(biāo)記硅藻位置，并對(duì)所有標(biāo)記的位置自動(dòng)高倍數(shù)取圖，自動(dòng)生成包含所有被標(biāo)記硅藻的高質(zhì)量圖片的報(bào)告。
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PhaseMapping——讓相分布更加直觀
在使用能譜檢測(cè)樣品的同時(shí)，可顯示出不同相在樣品中的分布情況，使得物相分布直觀可見(jiàn)，同時(shí)具有相歸類(lèi)，計(jì)算相比例等功能，非常適用于合金、陶瓷、礦物分析等領(lǐng)域的測(cè)試分析。
EBL 電子束曝光——在飛納電鏡中完成圖案制作
可在飛納電鏡中，利用電子束來(lái)進(jìn)行微細(xì)圖案的曝光和制造,在這個(gè)過(guò)程中，電子束被聚焦并精確地照射在感光材料表面，制備具有特定形狀、尺寸、材料的微納結(jié)構(gòu)，該技術(shù)能夠在納米級(jí)別上精確制造復(fù)雜圖形和結(jié)構(gòu)，可應(yīng)用于包括微電子、集成電路制造、傳感器、生物醫(yī)學(xué)等諸多領(lǐng)域。
復(fù)納科技提供智能、高效、可靠的科學(xué)儀器和解決方案，通過(guò)的服務(wù)與客戶(hù)建立長(zhǎng)期合作關(guān)系。如您對(duì)飛納電鏡的新型號(hào)、以及新功能感興趣，歡迎咨詢(xún)。
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